CMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀
| 型 號： | CMXdl |
| 報 價： |  |
上海洪富儀器儀表有限公司CMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀
- 產(chǎn)品描述
上海洪富儀器儀表有限公司CMXdl+,CMXdl+ ,CMXdl+超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀
| CMX系列超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀 | ||
◎ 多種測量方式： 模式一：僅測量基體厚度 模式二：僅測量涂層厚度 模式三：同時測量基體和涂層的厚度
◎ 多種顯示模式 ◎ 增益可調(diào)節(jié)：超低、低、中、高、超高 ◎ 增益值zui高可到110dB ◎ 自動增益控制（AGC） ◎ 時間增益校正（TCG） ◎ 探頭自動識別，自動調(diào)零和溫度補(bǔ)償 ◎ 數(shù)據(jù)存貯：可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數(shù) ◎ 可存儲64個用戶參數(shù)設(shè)置 ◎ 高速掃查（50次/秒） ◎ 高達(dá)140HZ的脈沖重復(fù)頻率 ◎ B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀 ◎ A掃描波形顯示和RF顯示（CMXDL+ ） ◎ 差值測量模式 ◎ 高速掃查功能可用于快速找到壁厚的zui小值 ◎ 上/下限聲光報警功能 ◎ zui大值、zui小值顯示 ◎ 可通過軟件與計算***進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，方便用戶打印檢測報告
性能參數(shù) 鍵 盤：12鍵按鍵 測量范圍：界面波-底波（P-E）方式： 0.63－508mm 穿透涂層測量（E-E）模式： 2.54—102mm（因涂層的不同會有所變化） 僅測量涂層（CT）模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會有所變化） 顯示精度：0.01mm（可方便的進(jìn)行公制和英制的轉(zhuǎn)換） 聲速范圍：1250－13995m/s 工作溫度：-10℃—60℃ 探頭類型：1—10MHZ雙晶探頭 探頭接口：LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列測厚儀的探頭 通訊接口：RS232接口（配備USB轉(zhuǎn)RS232接頭） 電池工作時間：150小時（3節(jié)5號堿性電池）100小時（3節(jié)5號鎳鎘電池） 省電功能：5分鐘無任何操作后能自動關(guān)*** 顯 示 屏：62╳45.7mm（240 X 160像素），大數(shù)字厚度值顯示（厚度值數(shù)字高度可達(dá)17.78mm） 外觀尺寸：63.5X165X31.5MM 重量：382克 外殼：合金外殼 主機(jī)質(zhì)保兩年 | ||
